在当今数字化时代，芯片作为现代科技的核心，其复杂度和重要性都在不断攀升。从智能手机到AI，从汽车电子到IOT，芯片无处不在，而其质量的优劣直接决定了产品的性能和可靠性。然而，随着芯片制程的不断缩小（如今已达到18A甚至更小），芯片的规模和 ...

The 2006 International Test Conference is scheduled for the week of October 22 in Santa Clara, CA. For more on this year’s ITC, read our interview with program chair Anne Gattiker. Semiconductor test ...