该仪器采用静态容量法在低温条件下测量样品的吸附和脱附等温线，适用于粉末、颗粒等材料的比表面积和孔径分析。其特点包括独立的脱气预处理系统、双独立真空系统、高精度的压力测量和进口真空泵等，确保测试的准确性和稳定性。此外，仪器具备多种 ...

BSD-PM系列比表面及微孔分析仪采用静态容量法，通过控制低温下吸附质气体的压力来测定样品的吸附和脱附等温线，进而计算比表面积和孔径分布。该仪器具备多种测试方法和分析理论，包括BET、BJH、D-R等，并提供预处理系统和独立的脱气站。其技术特点包括 ...